masurarea unor parametri electrici ai materialelor semiconductoare



chestiuni de studiat

determinarea tipului de conductie electrica in monocristale de si si ge
masurarea rezistivitatii prin metoda celor patru sonde si determinarea pe baza asecteia a concentratiei de impuritati.

materiale utilizate

placheta 1 si l234 um
placheta 2 ge
placheta 3 si l350 um

relatii de calcul ale rezistivitatii electrice

unde s1.6
unde l este lungimea de difuzie pentru
fiecare placheta

determinarea experimentala a variatiei rezistivitatii electrice relative a unui monocristal de ge cu temperatura 13s.
determinarea latimii benzii interzise pentru un semiconductor din ge

relatia de calcul

wi 1.72510-4 ev



schema montajului